美國RHK掃描探針控制單元R9Plus
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相比于RHK在之前推出的R9控制器,革命性掃描探針顯微鏡控制平臺R9plus性能提升主要包括:全新的FPGA固件構架極大地提高了配置靈活性,另外,對于高級測量提供了60多個可用的數據通道;其數據流和掃描速度均提高5倍;他們還優化了高壓輸出電路板,使得噪聲水平降低到R9控制器的1/4;具有兩個掃描探針控制系統,同時可設置任意密度的網格點進行圖譜測量。這一款設備支持所有的掃描探針顯微鏡操作模式,包括:STM、dI/dV譜、接觸式和導電式AFM、非接觸式AFM、開爾文探針KFM等,且不需要添加任何外置設備。