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品類先鋒
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創新點
1）更穩定的得到冷場發射電子槍； 2）更高級的自動球差校正軟件 3）更高效的能譜分析功能
上市時間：2020年2月
產品介紹
2020年02月14日，日本電子（JEOL Ltd.）總裁兼首席運營官Izumi Oi宣布發布全新原子分辨率分析電子顯微鏡JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2），該電子顯微鏡將于2020年2月發布。
■ 主要特點
1 超高空間分辨率與能譜分析的組合優化。
新開發的FHP2物鏡極靴的特點如下：
1）提高了能譜分析效率到兩倍以上。
2）低光學系數，低Cc系數和低Cs系數使得超高空間分辨率和高靈敏度X射線分析能夠在一定范圍的加速電壓下執行。
（保證的STEM分辨率：300kV時53pm，80kV時96pm）*
*在配置STEM擴展軌跡像差（ETA）校正器時
2 用于物鏡的超寬極靴（WGP）能譜分析靈敏度超高，原位擴展極強。
1）WGP極靴的能譜固體角為2.2 sr。
2）WGP極靴寬度可達6mm，更方便進行各種類型的原位實驗。
3 JEOL開發的12極子球差（Cs）校正器和自動校正軟件。
1）FHP2極靴，GRAND ARM™2在300 kV時的STEM分辨率達到53 pm。
2）WGP極靴，GRAND ARM™2在300 kV時的STEM分辨率達到59 pm。
3）JEOL COSMO™（自動校正軟件）使快速，輕松執行像差校正成為可能。
4 新式冷場發射槍（Cold-FEG）。
GRAND ARM™2配備了新式Cold-FEG，可從電子源提供較小的能量散布。穩定性更好。
5 減輕外部干擾的外殼
這種新外殼是減少外部干擾（例如氣流，室內溫度變化和噪音）的標準。
■ 主要規格
保證分辨率 | HAADF-STEM圖像：53pm（帶ETA校正器和FHP2） 電子槍：冷場發射槍（Cold-FEG） |
加速電壓 | 標準：300kV和80kV |
能量色散X射線光譜儀 | 大面積SDD（158mm 2）：可以使用雙探測器 |
注：對于醫療器械類產品，請先查證核實企業經營資質和醫療器械產品注冊證情況。
售后服務承諾
免費上門安裝：是
保修期：1年
是否可延長保修期：是
保內維修承諾：全免
報修承諾：快速到達
免費儀器保養：每年一次
免費培訓：3人技術中心培訓
現場技術咨詢：有
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